1、概述
　　
　　我們經(jīng)常接觸的是一般普通金相顯微鏡，它主要用于測(cè)量金屬表機(jī)金相組織的測(cè)試，用途比較廣泛，對(duì)企業(yè)，冶金等部門(mén)起著實(shí)驗(yàn)，研究不可缺少的重要作用。生產(chǎn)金相顯微鏡廠(chǎng)家比較多，型號(hào)，規(guī)格又不統(tǒng)一，所以對(duì)金相顯微鏡檢測(cè)至今尚無(wú)國(guó)家、地方、部門(mén)檢定規(guī)程，因此，我們依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。
　　
　　2、對(duì)金相顯微鏡檢測(cè)項(xiàng)目、方法和技術(shù)要求：
　　
　　2.1物鏡轉(zhuǎn)換器定位誤差
　　
　　檢具：（1）10倍十字目鏡。
　　
　?。?）分劃值為0.01mm的分劃尺，其任意兩劃線(xiàn)間的極限偏差為±0.005mm。
　　
　　檢測(cè)方法：在被檢金相顯微鏡的轉(zhuǎn)換器上裝40倍物鏡，目鏡筒內(nèi)放10倍十字目鏡，對(duì)置于載物臺(tái)上的0.01mm分
　　
　　劃尺調(diào)焦清晰，使分劃尺上某一分劃與目鏡中十字劃中央重合，然后轉(zhuǎn)動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器向左，右多次定位（不少于3
　　
　　次），觀察0.01mm分劃尺像的偏移，以*大偏移值作為檢測(cè)值。
　　
　　技術(shù)要求：不大于0.02mm。
　　
　　2.2轉(zhuǎn)換物鏡時(shí)**次像面中央偏：
　　
　　檢具：（1）10倍十字分劃目鏡。
　　
　?。?）二字分劃板。
　　
　　檢測(cè)方法：用10倍十字分劃目鏡和各放大率物鏡在被檢顯微鏡上進(jìn)行檢測(cè)，以偏的*大值作為檢測(cè)值。
　　
　　技術(shù)要求：由10倍物鏡轉(zhuǎn)換至其它放大率物鏡時(shí)均不越出視場(chǎng)。
　　
　　2.3載物臺(tái)旋轉(zhuǎn)中央偏移：
　　
　　檢具：（1）10倍十字分劃目鏡。
　　
　?。?）二字分劃板。
　　
　　檢測(cè)方法：在被檢金相量微鏡上用10倍十字分劃目鏡和10倍物鏡對(duì)置于載物臺(tái)上的十字分劃板調(diào)焦清晰，在轉(zhuǎn)動(dòng)載物臺(tái)的同時(shí)移動(dòng)十字分劃板，使十字線(xiàn)中央的像趨向于*小的圓，以*小圓的直徑作為檢測(cè)值。
　　
　　技術(shù)要求：顯微鏡**次像的中央，*大偏移不大于0.2mm。
　　
　　2.4十字分劃目鏡的十字線(xiàn)中央偏差：
　　
　　檢具：十字分劃板。
　　
　　檢測(cè)方法：在顯微鏡上用10倍物鏡和被檢十字分劃目鏡對(duì)置于載物臺(tái)上的十字分劃板調(diào)焦清晰，并使十字分劃板中央的像與十字分劃板目鏡重合，然后旋轉(zhuǎn)十字分劃目鏡，以?xún)墒志€(xiàn)中央的*大偏移作為檢測(cè)值。
　　
　　技術(shù)要求：十字分劃目鏡的十字線(xiàn)中央應(yīng)與目鏡升圓軸線(xiàn)重合，其偏差為0.01mm。
　　
　　3、檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題
　　
　　顯像部分出現(xiàn)的問(wèn)題比較嚴(yán)重。
　　
　　3.1光學(xué)系統(tǒng)：
　　
　?。?）視場(chǎng)模糊或視場(chǎng)一樣不清晰。
　　
　　（2）像發(fā)閃爍，反差不好。
　　
　　（3）轉(zhuǎn)換物鏡時(shí)不到同焦。
　　
　?。?）即使用高電壓，視場(chǎng)也難以鮮明。
　　
　　3.2粗、微調(diào)部
　　
　?。?）粗調(diào)控制鈕旋轉(zhuǎn)時(shí)發(fā)重。
　　
　?。?）由于載物臺(tái)自然下降或粗調(diào)的滑動(dòng)使觀察中的焦點(diǎn)離開(kāi)。
　　
　　3.3雙目鏡筒：
　　
　　雙目鏡筒的視場(chǎng)不一致。